红外/紫外激光椭偏仪

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 产品概述

      采用10.6um或355nm激光光源或其他光源,对被测镜片进行膜层或表面位相延迟的检测,通过物理建模和软件,可进行定量分析,是光学薄膜,激光偏振检测,偏振和位相研究的重要工具。

       产品参数 

       产品用途

      运用实例:90度圆偏振膜系,0度线偏振膜系的检测